Műszaki Tudományok Kutató-Fejlesztő Központ | Anyagmérnöki Intézeti Tanszék
Kutatási terület: Pásztázó elektronmikroszkópia, röntgentomográfia, röntgendiffració, termikus elemzés, CHNS elemanalízis
Bármely anyagrendszer hővezetési tényezőjének gyors (néhány perc) meghatározása, kis felületen, rendkívül tág (0,002-120 W/mK) tartományban. Szilárd anyagok, porok, folyadékok vizsgálata.