Műszaki Tudományok Kutató-Fejlesztő Központ | Anyagmérnöki Intézeti Tanszék
Kutatási terület: Pásztázó elektronmikroszkópia, röntgentomográfia, röntgendiffració, termikus elemzés, CHNS elemanalízis
A komputertomográf-rendszerrel egyetlen mérésfutással számos alkatrészjellemző vizsgálható. A mérési eredmények pontosak és nyomonkövethetőek.